悦芯科技2024年度上海研讨会圆满举办！

11月8日，悦芯科技召开了2024年度上海技术研讨会，研讨会在上海张江高科博雅酒店举行，来自行业125家公司代表莅临现场。本次研讨会以“携手同行·测出中华‘芯’动力”为主题，展现了时下悦芯科技各类产品在ATE行业中的丰富应用场景及典型解决方案！

会议开场，由悦芯科技联合创始人杨爱民先生致开场词，向参会领导嘉宾、专家学者、行业精英表示热烈欢迎和衷心感谢，分享了悦芯科技在国产设备ATE行业中的优势及前瞻性，希望与与会嘉宾充分交流探讨，碰撞创新火花，共同推动国产设备在市场中的转化应用，为加快实现中国ATE行业的高水平自立自强贡献力量。

本次研讨会的演讲主题紧紧围绕解决方案开展，其中《系统芯片测试》详细阐述了基于T800D的复杂SOC芯片的高通道、高并测解决方案；《高性能混合信号测试》是T800平台针对ADC的测试解决方案；《射频测试》介绍了基于T800平台来整合国产射频测试解决方案。

除了分享以上各类解决方案外，悦芯科技专题介绍了公司 Flash 存储器芯片测试系统—M5000 以及 DRAM 存储器芯片测试系统—TM8000 ；目前，存储测试机国产化率极低，相信通过悦芯科技这两款测试系统的面世会实现行业的重大突破并为未来国产设备崛起提供重要技术支撑！

此次研讨会的成功举办，不仅展示了悦芯科技的解决方案能力，也体现了悦芯科技产品的研发实力与市场潜力。往后，悦芯科技将继续在行业深耕，为更多的客户提供高质量、高性能、创新性的集成电路测试解决方案！